Описание
Зонды SCM-PIT-V2 имеют токопроводящее покрытие и подходят для работы методами электростатической силовой микроскопии (EFM), Кельвин-зондовой силовой микроскопии (KPFM), сканирующей емкостной силовой микроскопии (SCM) и др. для определения электрических характеристик образцов.
Детали
Производитель | Bruker Nano Inc. |
---|---|
Модель | SCM-PIT-V2 |
Высота зонда | 10 – 15мкм |
Передний угол | 17,5 ± 2.5° |
Задний угол | 25 ± 2.5° |
Боковой угол | 20 ± 2.5° |
Радиус зонда (номинальный) | 25нм |
Количество кантилеверов на чипе | 1 |