Перейти к содержимому
Меню
Испытания и контроль
  • О компании
  • Каталог
    • Материаловедение

      • Атомно-силовая микроскопия
      • Электронная микроскопия
        • Расходные материалы и аксессуары для электронной микроскопии
      • Микроскопия
      • Спектральный анализ
      • Твердомеры
      • Термоанализ
      • Пробоподготовка
      • Расходные материалы
    • Испытания

      • Климатические камеры
        • Климатические камеры собственного производства
        • Прецизионные высокотемпературные печи
        • Камеры солнечного старения/УФ излучения
        • Ксеноновые испытательные камеры
        • Камеры температуры и влажности
        • Камеры с высокой скоростью изменения температуры
        • Камеры термического удара
        • Камеры ускоренного старения
        • Камеры для испытаний аккумуляторов
        • Камеры пыли
        • Камеры дождя
        • Камеры для высотных/гипоксических тренировок
        • Камеры для испытаний аккумуляторов
      • Вибростенды
      • Лазерные виброметры
      • Иное испытательное оборудование
        • Дилатометры
    • Биология

      • Микроскопы Био
        • Микроскопы прямые
        • Микроскопы инвертированные
        • Микроскопы стереоскопические
    • Координатно-измерительные машины
    • Вспомогательное оборудование
    • Склад
  • Услуги
    • Сервисное обслуживание
    • Логистическое сопровождение
  • Загрузки
  • Контакты
  • ru RU
    • zh-CN ZH-CN
    • en EN
    • de DE
    • ru RU
Испытания и контроль

Катод Шоттки (полевая эмиссия) DENKA TFE 174C

Катод Шоттки (полевая эмиссия) DENKA TFE 174C

Запросить цену loading
Категории: Материаловедение, Расходные материалы, Расходные материалы и аксессуары для электронной микроскопии
  • Описание
  • Детали

Описание

Катод Шоттки, производства компании DENKA (Япония) для растровых сканирующих электронных микроскопов. Устанавливается на модели СЭМ следующих производителей: ZEISS, FEI, HITACHI, JEOL, TESCAN итд.

DENKA TFE 174C, TFE 174C CZ, TFE 174C SE

Детали

Производитель

DENKA

Похожие товары

  • Исследовательский прямой микроскоп Axio Imager 2

    Исследовательский прямой микроскоп Axio Imager 2

  • Cканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом  (FE-SEM) SIGMA

    Cканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом (FE-SEM) SIGMA

  • Автоматический вакуумный импрегнатор для холодной заливки MPV-830

    Автоматический вакуумный импрегнатор для холодной заливки MPV-830

  • Атомно-абсорбционный спектрометр серии AA-7020

    Атомно-абсорбционный спектрометр серии AA-7020

©2025 Испытания и контроль