Перейти к содержимому
Меню
Испытания и контроль
  • О компании
  • Каталог
    • Материаловедение

      • Атомно-силовая микроскопия
      • Электронная микроскопия
        • Расходные материалы и аксессуары для электронной микроскопии
      • Микроскопия
      • Спектральный анализ
      • Твердомеры
      • Термоанализ
      • Пробоподготовка
      • Расходные материалы
    • Испытания

      • Климатические камеры
        • Климатические камеры собственного производства
        • Прецизионные высокотемпературные печи
        • Камеры солнечного старения/УФ излучения
        • Ксеноновые испытательные камеры
        • Камеры температуры и влажности
        • Камеры с высокой скоростью изменения температуры
        • Камеры термического удара
        • Камеры ускоренного старения
        • Камеры для испытаний аккумуляторов
        • Камеры пыли
        • Камеры дождя
        • Камеры для высотных/гипоксических тренировок
        • Камеры для испытаний аккумуляторов
      • Вибростенды
      • Лазерные виброметры
      • Иное испытательное оборудование
        • Дилатометры
    • Биология

      • Микроскопы Био
        • Микроскопы прямые
        • Микроскопы инвертированные
        • Микроскопы стереоскопические
    • Координатно-измерительные машины
    • Вспомогательное оборудование
    • Склад
  • Услуги
    • Сервисное обслуживание
    • Логистическое сопровождение
  • Загрузки
  • Контакты
  • ru RU
    • zh-CN ZH-CN
    • en EN
    • de DE
    • ru RU
Испытания и контроль

Cканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом (FE-SEM) SIGMA

Cканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом  (FE-SEM) SIGMA
Cканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом  (FE-SEM) SIGMA — изображение 2
Cканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом  (FE-SEM) SIGMA — изображение 3
Cканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом  (FE-SEM) SIGMA — изображение 4

Запросить цену loading
Артикул: (FE-SEM) SIGMA Категории: Материаловедение, Электронная микроскопия
  • Описание
  • Детали

Описание

Аналитические возможности В основе сканирующих электронных микроскопов с полевой эмиссией серии ΣIGMA от Carl Zeiss лежит колонна GEMINI, лидирующая на рынке. Конструкция колонны GEMINI обеспечивает непревзойденное качество и стабильность изображений при низких ускоряющих напряжениях. ΣIGMA позволяет разрешать структуры на уровне 1,5нм. ΣIGMA HD предоставляет дальнейшее улучшение разрешения до 1,0 нм вместе с возможностью проведения более быстрого и точного анализа EDS.

 

Детали

Ист. электронов

Термополевой катод Шоттки

Детектор

Carl Zeiss BSD

Максимальная скорость сканирования

100 нс/пикс

Уск. напряжение

0.2 – 30 кВ

Увеличение

1000000x

Ток пучка

4 пА — 20 нА (опция 100 нА)

Максимальный размер изображения

3072 x 2304 пикс

Доступные порты

10

Порты для EDS

1

Режим высокого вакуума

Есть

Вакуум

2-133 Па

Тип столика

5-ти осевой компуцентрический
Перемещение по X=125 мм
Перемещение по Y=125 мм
Перемещение по Z=50 мм
Перемещение по T= -10° — 90°
Перемещение по R=360° без ограничителя

Похожие товары

  • Атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview 6600 AFM

    Атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview 6600 AFM

  • Атомно-абсорбционный спектрометр серии AA-7020

    Атомно-абсорбционный спектрометр серии AA-7020

  • Атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview 1000 AFM

    Атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview 1000 AFM

  • Автоматический шлифовально-полировальный станок eGP-1B

    Автоматический шлифовально-полировальный станок eGP-1B

©2025 Испытания и контроль