Атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview 6800 AFM

Описание

Конструкция «все в одном», продуманная структура и интерфейс. Сканирующая головка и предметный столик для образцов спроектированы вместе, обладают хорошими антивибрационными характеристиками. Точное лазерное обнаружение и устройство выравнивания зонда упрощают и облегчают ручную или автоматическую регулировку лазера, чтобы реализовать точное позиционирование области сканирования. Высокоточное устройство для переноса образца с большим диапазоном позволяет сканировать любую интересующую область образца. Различные типы сканеров отвечают различным требованиям клиентов по точности и размеру сканирования; система оптического наблюдения для проверки наконечника и образца. CCD камера для наблюдения и позиционирования образца в режиме реального времени. Сервопривод для автоматической фокусировки CCD.

Удобное программное обеспечение и функции

1. Многоканальные изображения захватываются и отображаются синхронно, возможность наблюдения за картой профиля в режиме реального времени.

2. Возможность получения и измерения множества графиков, таких как F-Z, f-RMS, RMS-Z.

3. Функция перемещения и вырезания области сканирования, выбор любой интересующей области образца;

4. Сканирование образца под любым углом в начале сканирования;

5. Регулировка системы обнаружения лазерного пятна в режиме реального времени;

6. Поиск резонансной частоты наконечника вручную или автоматически.

7. Возможность выбора и установки цвета сканируемого изображения в палитре.

8. Поддержка линейного усреднения и коррекции смещения в режиме реального времени;

9. Поддержка калибровки чувствительности сканера и автокалибровки электронного контроллера;