Атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview 1000 AFM

Описание

Информация о продукте

Сканирующая головка и столик образцов спроектированы вместе, обладают высокими антивибрационными характеристиками;

Устройство точного лазерного обнаружения и выравнивания зонда упрощают процедуру лазерной настройки регулировку;

Адаптированный сервопривод для управления приближающимся наконечником вручную или автоматически, позволяющий реализовать точное позиционирование области сканирования;

Устройство для переноса зонда с высокой точностью и большим диапазоном позволяет сканировать любую интересующую область образца;

Система оптического наблюдения для проверки наконечника и позиционирования образца; Электронная система спроектирована как модульная и проста в обслуживании и дальнейшем развитии;

Пружинная виброизоляция, простота и хорошая производительность.

Программного обеспечения

1. Два разрешения: 256×256, 512×512;

2. Функция перемещения и вырезания области сканирования, выбор любой интересующей области образца;

3. Сканирование образца под любым углом в начале сканирования;

4. Регулировка системы обнаружения лазерного пятна в режиме реального времени;

5. Возможность выбора и установки цвета сканируемого изображения в палитре.

6. Поддержка линейного усреднения и коррекции смещения в режиме реального времени;

7. Поддержка калибровки чувствительности сканера и автокалибровки электронного контроллера;

8. Поддержка автономного анализа и обработки образца изображения.

Основные характеристики