Описание
Зонды SCM-PIT-V2 имеют токопроводящее покрытие и подходят для работы методами электростатической силовой микроскопии (EFM), Кельвин-зондовой силовой микроскопии (KPFM), сканирующей емкостной силовой микроскопии (SCM) и др. для определения электрических характеристик образцов.
Детали
| Производитель | Bruker Nano Inc. |
|---|---|
| Модель | SCM-PIT-V2 |
| Высота зонда | 10 — 15мкм |
| Передний угол | 17,5 ± 2.5° |
| Задний угол | 25 ± 2.5° |
| Боковой угол | 20 ± 2.5° |
| Радиус зонда (номинальный) | 25нм |
| Количество кантилеверов на чипе | 1 |
