Перейти к содержимому
Меню
Испытания и контроль
  • О компании
  • Каталог
    • Материаловедение

      • Атомно-силовая микроскопия
      • Электронная микроскопия
        • Расходные материалы и аксессуары для электронной микроскопии
      • Микроскопия
      • Спектральный анализ
      • Твердомеры
      • Термоанализ
      • Пробоподготовка
      • Расходные материалы
    • Испытания

      • Климатические камеры
        • Климатические камеры собственного производства
        • Прецизионные высокотемпературные печи
        • Камеры солнечного старения/УФ излучения
        • Ксеноновые испытательные камеры
        • Камеры температуры и влажности
        • Камеры с высокой скоростью изменения температуры
        • Камеры термического удара
        • Камеры ускоренного старения
        • Камеры для испытаний аккумуляторов
        • Камеры пыли
        • Камеры дождя
        • Камеры для высотных/гипоксических тренировок
        • Камеры для испытаний аккумуляторов
      • Вибростенды
      • Лазерные виброметры
      • Иное испытательное оборудование
        • Дилатометры
    • Биология

      • Микроскопы Био
        • Микроскопы прямые
        • Микроскопы инвертированные
        • Микроскопы стереоскопические
    • Координатно-измерительные машины
    • Вспомогательное оборудование
    • Склад
  • Услуги
    • Сервисное обслуживание
    • Логистическое сопровождение
  • Загрузки
  • Контакты
  • ru RU
    • zh-CN ZH-CN
    • en EN
    • de DE
    • ru RU
Испытания и контроль

Отображение 1–8 из 11

  • Cканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом  (FE-SEM) SIGMA

    Cканирующий электронный микроскоп с полевым эмиссионным катодом (FE-SEM) SIGMA

  • Катод Шоттки (полевая эмиссия) DENKA TFE 174C

    Катод Шоттки (полевая эмиссия) DENKA TFE 174C

  • Катоды для электронного микроскопа

    Катоды для электронного микроскопа

  • Катоды для электронного микроскопа (Копировать)

    Катоды для электронного микроскопа (Копировать)

  • Настольный сканирующий электронный микроскоп OPTO-EDU 7001

    Настольный сканирующий электронный микроскоп OPTO-EDU 7001

  • Растровый электронный микроскоп серии EVO/ SEM EVO

    Растровый электронный микроскоп серии EVO/ SEM EVO

  • Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом OPTO-EDU 7069 (7069-LV)

    Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом OPTO-EDU 7069 (7069-LV)

  • Стандарты для микроанализа

    Стандарты для микроанализа

  • 1
  • 2
  • →
©2025 Испытания и контроль